電子測(cè)試?yán)碚撆c應(yīng)用雜志(Journal Of Electronic Testing-theory And Applications)是一本由Springer US出版的一本工程：電子與電氣-工程技術(shù)學(xué)術(shù)刊物，主要報(bào)道工程：電子與電氣-工程技術(shù)相關(guān)領(lǐng)域研究成果與實(shí)踐。本刊已入選來(lái)源期刊，該刊創(chuàng)刊于1990年，出版周期Bimonthly。2021-2022年最新版WOS分區(qū)等級(jí)：Q4，2023年發(fā)布的影響因子為1.1，CiteScore指數(shù)2，SJR指數(shù)0.271。本刊非開(kāi)放獲取期刊。
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》是傳播電子測(cè)試領(lǐng)域研究和應(yīng)用信息的國(guó)際論壇。這是唯一一本專(zhuān)門(mén)針對(duì)電子測(cè)試的雜志?！峨娮訙y(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》上發(fā)表的論文經(jīng)過(guò)同行評(píng)審，以確保原創(chuàng)性、及時(shí)性和相關(guān)性。該雜志提供檔案材料，并通過(guò)其快速的出版周期，努力將最新成果帶給研究人員和從業(yè)人員。雖然它強(qiáng)調(diào)發(fā)表珍貴的未發(fā)表材料，但需要更廣泛曝光的優(yōu)秀會(huì)議論文，只要符合該雜志的同行評(píng)審標(biāo)準(zhǔn)，編輯也會(huì)酌情發(fā)表。 《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》還尋求清晰的調(diào)查和評(píng)論文章，以促進(jìn)對(duì)最新技術(shù)的更好理解。
《電子測(cè)試：理論與應(yīng)用雜志》的報(bào)道包括但不限于以下主題：
VLSI 設(shè)備印刷電路板和電子系統(tǒng)的測(cè)試；
模擬和數(shù)字電子電路的測(cè)試；
微處理器、存儲(chǔ)器和信號(hào)處理設(shè)備的測(cè)試；
故障建模；
測(cè)試生成；
故障模擬；
可測(cè)試性分析；
可測(cè)試性設(shè)計(jì)；
可測(cè)試性綜合；
內(nèi)置自測(cè)試；
測(cè)試規(guī)范；
容錯(cuò)；
形式驗(yàn)證硬件；
驗(yàn)證模擬；
設(shè)計(jì)調(diào)試；
測(cè)試和診斷的人工智能方法和專(zhuān)家系統(tǒng)；
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）；
測(cè)試夾具；
電子束測(cè)試系統(tǒng)；
測(cè)試編程；
測(cè)試數(shù)據(jù)分析；
測(cè)試經(jīng)濟(jì)性；
質(zhì)量和可靠性；
CAD 工具；
晶圓級(jí)集成器件測(cè)試；
可靠系統(tǒng)測(cè)試；
制造良率和良率改進(jìn)設(shè)計(jì)；
故障模式分析和工藝改進(jìn)
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| 工程技術(shù) | 4區(qū) | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：電子與電氣 | 4區(qū) | 否 | 否 |
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中科院JCR期刊分區(qū)（又稱(chēng)分區(qū)表、分區(qū)數(shù)據(jù)）是中國(guó)科學(xué)院文獻(xiàn)情報(bào)中心世界科學(xué)前沿分析中心的科學(xué)研究成果。在中科院期刊分區(qū)表中，主要參考3年平均IF作為學(xué)術(shù)影響力，最終每個(gè)分區(qū)的期刊累積學(xué)術(shù)影響力是相同的，各區(qū)的期刊數(shù)量由高到底呈金字塔式分布。
| 按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 278 / 352 |
21.2%
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| 按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學(xué)科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q4 | 293 / 354 |
17.37%
|
湯森路透每年出版一本《期刊引用報(bào)告》（Journal Citation Reports，簡(jiǎn)稱(chēng)JCR）。JCR對(duì)86000多種SCI期刊的影響因子（Impact Factor）等指數(shù)加以統(tǒng)計(jì)。JCR將收錄期刊分為176個(gè)不同學(xué)科類(lèi)別在JCR的Journal Ranking中，主要參考當(dāng)年IF，最終每個(gè)分區(qū)的期刊數(shù)量是均分的。
| 學(xué)科類(lèi)別 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 大類(lèi)：Engineering 小類(lèi)：Electrical and Electronic Engineering | Q3 | 495 / 797 |
37%
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CiteScore：該指標(biāo)由Elsevier于2016年提出，指期刊發(fā)表的單篇文章平均被引用次數(shù)。CiteScorer的計(jì)算方式是：例如，某期刊2022年CiteScore的計(jì)算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發(fā)表的文章在2022年獲得的被引次數(shù)，除以該期刊2019年、2020年和2021發(fā)表并收錄于Scopus中的文章數(shù)量總和。
| 文章名稱(chēng) | 引用次數(shù) |
| 期刊名稱(chēng) | 引用次數(shù) |
| 期刊名稱(chēng) | 引用次數(shù) |
中科院分區(qū) 2區(qū) JCR分區(qū) Q1
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