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Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence SCIE

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence

約7.9個月 審稿時間

1區中科院分區

Q1JCR分區

20.8影響因子

0162-8828

1939-3539

IEEE T PATTERN ANAL

UNITED STATES

工程技術 - 工程:電子與電氣

1979

326

Monthly

English

1005

0.02...

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期刊簡介

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence(Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence)是一本由IEEE Computer Society出版的一本工程技術-工程:電子與電氣學術刊物,主要報道工程技術-工程:電子與電氣相關領域研究成果與實踐。本刊已入選來源期刊,屬于國際一流期刊。該刊創刊于1979年,出版周期Monthly。2021-2022年最新版WOS分區等級:Q1,2023年發布的影響因子為20.8,CiteScore指數28.4,SJR指數6.158。本刊非開放獲取期刊。

《IEEE 模式分析與機器智能學報》發表有關計算機視覺和圖像理解的所有傳統領域、模式分析和識別的所有傳統領域以及機器智能的選定領域的文章,特別強調模式分析的機器學習。還涵蓋了視覺搜索技術、文檔和筆跡分析、醫學圖像分析、視頻和圖像序列分析、基于內容的圖像和視頻檢索、面部和手勢識別以及相關的專用硬件和/或軟件架構等領域。

中科院分區信息

IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence2023年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence2022年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence2021年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence2021年12月基礎版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
工程技術 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence2021年12月升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence2020年12月舊的升級版
大類學科 分區 小類學科 分區 Top期刊 綜述期刊
計算機科學 1區 COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE 計算機:人工智能 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 1區 1區
名詞解釋:

中科院JCR期刊分區(又稱分區表、分區數據)是中國科學院文獻情報中心世界科學前沿分析中心的科學研究成果。在中科院期刊分區表中,主要參考3年平均IF作為學術影響力,最終每個分區的期刊累積學術影響力是相同的,各區的期刊數量由高到底呈金字塔式分布。

JCR分區信息

Ieee Transactions On Pattern Analysis And Machine Intelligence(2023-2024年最新版數據)
按JIF指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE SCIE Q1 2 / 197
99.2%
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 3 / 352
99.3%
按JCI指標學科分區 收錄子集 分區 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, ARTIFICIAL INTELLIGENCE SCIE Q1 3 / 198
98.74%
學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 2 / 354
99.58%
名詞解釋:

湯森路透每年出版一本《期刊引用報告》(Journal Citation Reports,簡稱JCR)。JCR對86000多種SCI期刊的影響因子(Impact Factor)等指數加以統計。JCR將收錄期刊分為176個不同學科類別在JCR的Journal Ranking中,主要參考當年IF,最終每個分區的期刊數量是均分的。

期刊數據統計

1、Cite Score(2024年最新版)
學科類別 分區 排名 百分位
大類:Mathematics 小類:Applied Mathematics Q1 1 / 635
99%
大類:Mathematics 小類:Computational Theory and Mathematics Q1 1 / 176
99%
大類:Mathematics 小類:Software Q1 7 / 407
98%
大類:Mathematics 小類:Artificial Intelligence Q1 8 / 350
97%
大類:Mathematics 小類:Computer Vision and Pattern Recognition Q1 6 / 106
94%
名詞解釋:

CiteScore:該指標由Elsevier于2016年提出,指期刊發表的單篇文章平均被引用次數。CiteScorer的計算方式是:例如,某期刊2022年CiteScore的計算方法是該期刊在2019年、2020年和2021年發表的文章在2022年獲得的被引次數,除以該期刊2019年、2020年和2021發表并收錄于Scopus中的文章數量總和。

2、綜合數據
3、本刊綜合數據對比及走勢

文章引用數據

文章名稱 引用次數
  • DeepLab: Semantic Image Segmentation wit...

    1207
  • Places: A 10 Million Image Database for ...

    155
  • HyperFace: A Deep Multi-Task Learning Fr...

    129
  • Direct Sparse Odometry

    121
  • Long-Term Temporal Convolutions for Acti...

    105
  • Multimodal Machine Learning: A Survey an...

    104
  • A Survey on Learning to Hash

    84
  • SIFT Meets CNN: A Decade Survey of Insta...

    79
  • Virtual Adversarial Training: A Regulari...

    67
  • Deeply Supervised Salient Object Detecti...

    66

期刊被引用數據

期刊名稱 引用次數
  • IEEE ACCESS

    4700
  • MULTIMED TOOLS APPL

    1793
  • IEEE T IMAGE PROCESS

    1411
  • SENSORS-BASEL

    1301
  • NEUROCOMPUTING

    1287
  • PATTERN RECOGN

    1119
  • IEEE T PATTERN ANAL

    947
  • REMOTE SENS-BASEL

    887
  • IEEE T CIRC SYST VID

    658
  • PATTERN RECOGN LETT

    637

期刊引用數據

期刊名稱 引用次數
  • IEEE T PATTERN ANAL

    947
  • INT J COMPUT VISION

    342
  • IEEE T IMAGE PROCESS

    274
  • ACM T GRAPHIC

    169
  • J MACH LEARN RES

    164
  • PATTERN RECOGN

    83
  • IMAGE VISION COMPUT

    56
  • IEEE T MULTIMEDIA

    52
  • COMPUT VIS IMAGE UND

    49
  • IEEE T KNOWL DATA EN

    46

國家/地區發文數據

國家/地區名 數量
  • USA

    271
  • CHINA MAINLAND

    266
  • England

    81
  • Australia

    62
  • Singapore

    51
  • GERMANY (FED REP GER)

    49
  • France

    44
  • South Korea

    35
  • Italy

    34
  • Switzerland

    31

機構發文數據

機構名 數量
  • CHINESE ACADEMY OF SCIENCES

    60
  • UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM

    47
  • MICROSOFT

    29
  • NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY & NATIO...

    24
  • TSINGHUA UNIVERSITY

    24
  • CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIF...

    23
  • PEKING UNIVERSITY

    23
  • IMPERIAL COLLEGE LONDON

    21
  • UNIVERSITY OF LONDON

    20
  • UNIVERSITY OF SYDNEY

    20

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免責聲明

若用戶需要出版服務,請聯系出版商:IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314。

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